c扫描系统可提供用于金属行业的多种超声波检测，整套扫描系统由机械、电气控制、超声等硬件和数据采集与后处理软件组成。可应用于: 航空航天，管材，金属，汽车和火车轨道，车轮和车轴等多个行业。
因---超声波机械扫描系统的制造中，对该设备的定位精度、直线度、平面度、平行度和同轴度的精度和重复性要求都非常高，api向客户提供了使用radian激光---仪的检测解决方案。
近年来，超声波扫描显微镜（c-san）已被成功地应用在电子工业，尤其是封装技术研究及实验室之中。由于超音波具有不用拆除组件外部封装之非破坏性检测能力，故c-san可以有效的检出ic构装中因水气或热能所造成的破坏如﹕脱层、气孔及裂缝…等。 超声波在行经介质时，若遇到不同密度或弹性系数之物质时，即会产生反射回波。而此种反射回波强度会因材料密度不同而有所差异.c-san即利用此特性来检出材料内部的缺陷并依所接收之讯号变化将之成像。因此，只要被检测的ic上表面或内部芯片构装材料的接口有脱层、气孔、裂缝…等缺陷时，即可由c-san影像得知缺陷之相对位置。
c-san服务 超声波扫描显微镜(c-san)主要使用于封装内部结构的分析，因为它能提供ic封装因水气或热能所造成破坏分析，例如裂缝、空洞和脱层。
c-san内部造影原理为电能经由---转换镜产生超声波触击在待测物品上，将声波在不同接口上反射或穿透讯号接收后影像处理，再以影像及讯号加以分析。
c-san可以在不需破坏封装的情况下探测到脱层、空洞和裂缝，波导杆报价，且拥有类似x-ray的穿透功能，并可以找出问题发生的位置和提供接口数据。
磁致伸缩导波模式常用于普立克传感器，它是一种基于可调膜结构和可调磁场的传感器技术。这种技术首先利用磁域激发薄膜结构，在晶体表面上形成引力中心，磁场分布于晶体表面内部，波导杆采购，然后再用磁场来调节引力中心，从而改变薄膜的结构，改变晶体的表面的角度。这种调节机制，不仅使薄膜的形状改变，而且可以改变晶体的物理参数，如膜厚、表面形状和弯曲率。 磁致伸缩导波模式的传感器还可以用于对非晶体表面，如金属表面或石墨表面，波导杆，进行测量。可以根据膜层的特殊性质，调节膜层折射率，从而检测反射率变化等特征参量，从而得出不同物相间对应的参数值。 通过磁致伸缩导波模式控制的传感器，可以---增强对晶体表面形状、膜厚和石墨表面反射率的准确控制。它的优势在于，它的形状和参数可以随时间改变，可以改变晶体表面的结构参数。因此，磁致伸缩导波模式控制的传感器可以---地提升对薄膜的检测准确性和---性，波导杆厂家，提供---的实验数据。
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